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SN74BCT8374ANT

¥32.18
专业逻辑

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

参数名称参数值
Product StatusObsolete
Logic TypeScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Supply Voltage4.5V ~ 5.5V
Number of Bits8
Operating Temperature0°C ~ 70°C
Mounting TypeThrough Hole
Package/ Case24-DIP (0.300", 7.62mm)
Supplier Device Package24-PDIP

新闻资讯

Texas Instruments 专业逻辑 产品 SN74BCT8374ANT

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