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SNJ54BCT8374AJT

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专业逻辑

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T

参数名称参数值
Product StatusActive
Logic TypeScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Supply Voltage4.5V ~ 5.5V
Number of Bits8
Operating Temperature-55°C ~ 125°C
Mounting TypeThrough Hole
Package/ Case24-CDIP (0.300", 7.62mm)
Supplier Device Package24-CDIP

新闻资讯

Texas Instruments 专业逻辑 产品 SNJ54BCT8374AJT

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