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SNJ54BCT8240AFK

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专业逻辑

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUF

参数名称参数值
Product StatusActive
Logic TypeScan Test Device with Inverting Buffers
Supply Voltage4.5V ~ 5.5V
Number of Bits8
Operating Temperature-55°C ~ 125°C
Mounting TypeSurface Mount
Package/ Case28-CLCC
Supplier Device Package28-LCCC (11.43x11.43)

新闻资讯

Texas Instruments 专业逻辑 产品 SNJ54BCT8240AFK

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